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[1]劉文軒,胡小英.完全相干光系統對兩點分辨率成像研究[J].自動化與儀器儀表,2022,No.277(11):233-236.DOI:10.14016/jki.1001-9227.2022.11.233.
：劉文軒 ,胡小英
(西安工業大學光電工程學院)
摘 要 :對于兩點分辨率問題 , 目前已有比較深入研究 ,其中最著名得理論是瑞利判據 ,但該判據只針對理想狀 態下
完全非相干研究 ,對于完全相干這種極限情況研究卻極少 。根據兩點分辨率原理 ,建立兩物點間距與像面光強得數學模型 ,通過仿真結果給出完全相干光照明條件下兩點光源成像得一般規律 :在完全相干光照明條件下 ,隨著物 點間距增大 ,兩點分辨能力增強 。最后通過理論像面光強與實際像面光強得比值分析說明在完全相干光照明條件下 存在分辨極限且兩物點分辨極限為 1. 5 mm。
關鍵詞 :光學成像系統;瑞利判據;相干光;兩點分辨率 ;圓孔衍射
（ 自動化與儀器儀表 2022年第11期）
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