寶石鑒定常用立式顯微鏡。主要用于觀察寶石的各種特征，
一、表面特征
表面損傷、切磨質量、拼合寶石的拼合特征、解理或斷口的特征等。
二、多相包體，愈合裂隙、生長線、色帶的分布及其特征；拼合石兩側包體特征以及后后刻面從影等。
三、顯微鏡的照明方法
A、暗域照明法
來自底光源的光不直接射向寶石，而是經半球狀反射器的反射后在射向寶石。此時光線不直接進入物鏡鏡筒。當寶石內有裂隙和包體缺陷導致光線的散射時，則有助于光線進入物鏡，寶石的內部特征在暗色背景上顯現十分清晰。這是一種最常用的照明方法，而且有利于長時間觀察。
B、亮域照明法
撤掉擋風板后，來自底光源的光線直接射向寶石，穿過寶石后直接進入物鏡。這種照明方式有利于色帶、生長紋和底突起的包體的觀察。
C、頂部照明法
關掉底光源。打開頂光源，使光線經過寶石表面反射后進入視域，這種照明方式適用于觀察寶石表面及近表面特征。
四、顯微鏡的調節和使用。
1、白紙上點一個黑點，至于視域中央，根據雙眼寬度調節目鏡間距。
2、物鏡倍數最低，鏡頭從下往上提升，準焦。
3、物鏡逐漸調節至最大。準焦。
4、檢查單眼準焦。
5、如果長時間使用顯微鏡，則要周期性的對焦距再做調節。
五、顯微鏡使用注意事項
1、使用顯微鏡觀察寶石之前，必須先將寶石清潔干凈，減少視線受阻。
2、寶石若有明顯后刻面重影或包體輪廓重影，說明寶石為非均質體且雙折射率較大，重影間距越大，雙折射率越大。如碧璽、鋯石、橄欖石等。
3、寶石表面磨損嚴重，則有可能硬度較低，如磷灰石、熒石等。
4、仔細觀察寶石表面的破損處，留意是否有解理面出露。如黃玉、矽線石等。
5、寶石內部平行排列的裂隙，指示著該方向可能是解理方向。
6、尋找合成寶石的弧形生長紋，一般刻面型寶石比弧面型新更容易，并可借助表面反射光將其與拋光文區分。
7、若寶石透明度差，需要借助表面反射光觀察近表面包體，不需使用透射光。
8、操作時先從低倍放大開始觀察，后逐漸放大，因低倍放大視域廣闊且明亮，工作距離大，便于全方位多角度觀察，尋找出特征包體后再近距離高倍觀察。
9、實驗完畢，需要將物鏡調至最低點，防止調焦旋鈕滑絲。
