薄膜電容的損耗是與制造工藝有關(guān)的，卷繞錯(cuò)邊與噴金工藝的設(shè)定是如何造成薄膜電容損耗問(wèn)題了，本文根據(jù)這兩個(gè)問(wèn)題展開(kāi)了探討，希望本文的內(nèi)容可以幫助到大家！
金屬化薄膜電容器芯子的端面要噴涂上金屬（一般為鋅、鋅錫合金），電容器的外引出線（一般為鍍錫銅包鋼線）就焊合到電容器芯子端面的金屬上（噴金層），這樣電容器的接觸損耗主要就是兩個(gè)方面。一是薄膜電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質(zhì)量；二是電容器的引出線與金屬層之間的接觸質(zhì)量。為了降低薄膜電容器的接觸損耗，應(yīng)從以下方面著手。
電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質(zhì)量，即金屬層與電容器芯子的附著質(zhì)量。
1）卷繞錯(cuò)邊，根據(jù)電容器的品種、電容量、額定電壓選取適當(dāng)?shù)牟牧希饘倩∧る娙萜鬟x取適當(dāng)?shù)慕饘倩∧ぃ娙萜髟诰砝@時(shí)要選取適當(dāng)?shù)牟牧襄e(cuò)邊，如果錯(cuò)邊較小，電容器芯子端面在噴涂金屬時(shí)，金厲顆粒就會(huì)噴到芯子內(nèi)部，造成電容器短踣，如果錯(cuò)邊過(guò)大，電容器芯子端面的金屬層附近不牢，影響電容器的高頻損耗。
2）噴金工藝設(shè)定
電容器的噴金工序是重要的工序，噴金工藝參數(shù)設(shè)定不好，直接影響產(chǎn)品質(zhì)量，它會(huì)造成電容器芯子的短黯、芼子端面的金屬層與芯子附著力不好，從而造成薄膜電容器高頻損耗增大。我們用正交試駿法進(jìn)行了試驗(yàn)，確定了電容器噴金工序的工藝參數(shù)。
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